Elektrotechnik/Informationstechnik

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EMI Department

Modulhandbuch

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System-Analyse

Empfohlene Vorkenntnisse

komplettes Grundstudium
Lehrform Vorlesung/Labor
Lernziele / Kompetenzen

Der Teilnehmer weiß die verschiedenen konkurrierenden Methoden zur Evaluation elektrischer
Systeme einzuordnen und einzusetzen: moderne rechnergestützte Simulationsmethoden
einerseits, und elektronische Messverfahren andererseits.
Dauer 2
SWS 4.0
Aufwand
Lehrveranstaltung 60h
Selbststudium / Gruppenarbeit: 120h
Workload 180h
ECTS 6.0
Voraussetzungen für die Vergabe von LP

Klausur K60, Laborarbeit
Leistungspunkte Noten

5 CP
Modulverantwortlicher

Prof. Dipl.-Ing. Peter Gröllmann
Haeufigkeit jedes 2. Semester
Verwendbarkeit

Studiengang EI
Veranstaltungen

Simulation

Art Praktikum
Nr. EMI225
SWS 2.0
Lerninhalt

1. Einleitung
2. Erste Schritte
3. MATLAB als intelligenter Tischrechner
4. Vektoren und Matrizen
5. Daten speichern und laden
6. Grafiken
7. Skripte und Funktionen
8. Symbolische Mathematik
9. Simulink
9.1 Modellierung und Simulation
9.2 Numerische Integration
9.3 Erste Schritte mit Simulink
9.4 Ausgewählte Beispiele
9.5 Schnittstelle zu MATLAB
Literatur

Handbuch des Regionalen Rechenzentrums für Niedersachsen, Leibniz-Universität Hannover
Stein, U., Einstieg in das Programmieren mit MATLAB, 3. Auflage, München, Hanser Verlag, 2011

Elektronische Messverfahren

Art Vorlesung
Nr. E+I226
SWS 2.0
Lerninhalt

- Genauigkeitsforderungen für Messverstärker: Beispiele
- Definition und Ursachen von Nullpunktfehlern
- Definition und Ursachen von Verstärkungsfehlern
- Fehlerbudget und Fehlerminimierung; Temperatur- und Langzeiteinflüsse
- Rauschen als Fehler: Ursachen, mathematische Beschreibung im Frequenz- und Zeitbereich, Schaltungsanalyse, Signal- Rausch-Verhältnis, Rauschminimierung, Messverfahren.
- Zeit- und Frequenzmessung mit Digitalzählern: Ereignis-, Frequenz- und Periodendauerzähler. Zeitintervall-, Anstiegszeit-
und Phasenmessung. Fehler: Digitfehler, Zeitbasisfehler, Jitter.
- Integrierende Analog- Digital- Wandler: Mehrrampenverfahren, Mittelwertbildung, Störunterdrückung.
Literatur

Mühl, T., Einführung in die elektrische Messtechnik, 4. Auflage, Wiesbaden, Springer Vieweg, 2014

Tietze U., Schenk C., Gamm E., Halbleiter-Schaltungstechnik, 15. Auflage, Berlin, Heidelberg, Springer Vieweg, 2016

 
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